Sachdev M. - Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits

Defect Oriented Testing for CMOS Analog and Digital Circuits

Sachdev M.

ISBN: 0792380835
Vydavateľstvo: Kluwer AP
Rok vydania: 1998
Dostupnosť: Na objednávku

Pôvodná cena: 0,00 €
Cena: Na vyžiadanie

Nárok na dopravu zdarma
Pridať do wishlistu
Späť Tlačiť Pošli dopyt
It is essential reading for all design and test professionals as well as researchers and students working in the field. `A strength of this book is its breadth.

Príbuzné oblasti
Pozri tiež
« »
Prehľad výstav, na ktorých bol titul prezentovaný:
- ELECTRICAL ENGINEERING, INFORMATION TECHNOLOGY & COMPUTER SCIENCE ´05