Najväčší obchod so zahraničnou odbornou literatúrou
Sme tu pre vás od roku 1992

0 ks - 0 €

$Snyder, R.L. - Defect and Microstructure Analysis by Diffraction$

Defect and Microstructure Analysis by Diffraction

Snyder, R.L.

ISBN: 9780198501893
Vydavateľstvo: Oxford UP
Rok vydania: 2000

Dostupnosť: Na objednávku

Cena: Na vyžiadanie

Nárok na dopravu zdarma

Pridať do wishlistu

Späť Tlačiť Pošli dopyt