Najväčší obchod so zahraničnou odbornou literatúrou
Sme tu pre vás od roku 1992

-15%

Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis

Third Edition

Goldstein

ISBN: 9780306472923
Vydavateľstvo: Springer
Rok vydania: 2003
Vydanie: 3rd Edition
Väzba: Hardback
Kategória: Textbook

Dostupnosť: Na objednávku

Pôvodná cena: 85,41 €

Výstavná cena: 72,60 €(t.j. po zľave 15%)
(Cena je uvedená vrátane 10% DPH)

Katalógová cena: 73.95 EUR

Nárok na dopravu zdarma

Pridať do wishlistu

Späť Tlačiť

Kúpiť