Bowen D. - X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing

X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing

Bowen D.

ISBN: 0849339286
Vydavateľstvo: Taylor & Francis
Rok vydania: 2006
Dostupnosť: Na objednávku

Pôvodná cena: 0,00 €
Cena: Na vyžiadanie

Nárok na dopravu zdarma
Pridať do wishlistu
Späť Tlačiť Pošli dopyt
While many books are available on the theory behind x-ray metrology (XRM), X-Ray Metrology in Semiconductor Manufacturing is the first book to focus on the practical aspects of the technology and its application in device fabrication and ...

Pozri tiež
« »