Značky

Zoradenie:
Zobraziť: 10 | 15 | 25 | 50 | 100 výsledkov
Basics of Interferometry

Basics of Interferometry

Hariharan, P.
Vydavateľstvo: Academic Press
Rok vydania: 2006
72,62 € (103,74 €)
Pridať do wishlistu:
Kúpiť
Geoinformation: Remote Sensing, Photogrammetry and Geographic Information Systems

Geoinformation: Remote Sensing, Photogrammetry and Geogra...

Gottfried Konecny
Vydavateľstvo: Taylor & Francis
Rok vydania: 2014
84,63 € (99,56 €)
Pridať do wishlistu:
Kúpiť
Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications

Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Al...

Manuel Servin, J. Antonio Quiroga, Moises Padilla
Vydavateľstvo: Wiley
Rok vydania: 2014
147,92 € (174,02 €)
Pridať do wishlistu:
Kúpiť